集成電路產(chǎn)業(yè)是信息技術(shù)產(chǎn)業(yè)的核心﹐是支撐經(jīng)濟(jì)社會(huì)發(fā)民和保障國(guó)家安全的戰(zhàn)略性、基礎(chǔ)性和先導(dǎo)性產(chǎn)業(yè)。集成電路使用半導(dǎo)體材料制作而成，是半導(dǎo)體產(chǎn)品的主要組成部分，占半導(dǎo)體產(chǎn)品&0%以上的市場(chǎng)份額。2018年至2022年7月，國(guó)家多部門陸續(xù)印發(fā)了規(guī)范、引導(dǎo)、鼓勵(lì)、規(guī)劃集成電路行業(yè)的發(fā)展政策，內(nèi)容涉及集成電路技術(shù)規(guī)范、集成電路集群發(fā)展支持、集成電路人才培養(yǎng)支持等內(nèi)容。其中，高校在我國(guó)集成電路科技事業(yè)的發(fā)展中扮演著重要的角色。高校實(shí)驗(yàn)教學(xué)體系的進(jìn)步為我國(guó)集成電路事業(yè)的發(fā)展奠定了人才基礎(chǔ)。

高校實(shí)驗(yàn)教學(xué)現(xiàn)狀

高校本科階段的實(shí)驗(yàn)教學(xué)體系主要由理論課程以及實(shí)驗(yàn)教學(xué)課程組成，在傳統(tǒng)的高校微電子、集成電路、電子信息工程、物理與電子信息工程等專業(yè)的實(shí)驗(yàn)教學(xué)存在的問(wèn)題較多，主要包括以下幾個(gè)方面:

1、實(shí)驗(yàn)儀表臺(tái)數(shù)少，實(shí)驗(yàn)課程周期長(zhǎng)，與理論課的時(shí)間兼容性差;

2、教育型專用儀表功能單一，復(fù)用率低，教育支出成本高;

3、教學(xué)儀表老舊﹐測(cè)量精度低，重復(fù)性差;

4、儀表操作傻瓜，實(shí)驗(yàn)過(guò)程不透明，欠缺對(duì)學(xué)生動(dòng)手操作能力的培養(yǎng);

5、實(shí)驗(yàn)課程內(nèi)容老舊，無(wú)法滿足現(xiàn)階段集成電路人才培養(yǎng)的需求。

普賽斯教學(xué)實(shí)驗(yàn)室集成工作臺(tái)解決方案

普賽斯利用工業(yè)級(jí)高精度的儀器儀表，配套相應(yīng)的芯片級(jí)半導(dǎo)體功率器件實(shí)驗(yàn)實(shí)訓(xùn)模組，可支撐集成電路、急電子等專業(yè)相關(guān)課程的教學(xué)與實(shí)訓(xùn)，助力高校打造芯片及功率器件測(cè)試實(shí)踐實(shí)訓(xùn)中心。

方案特色與優(yōu)勢(shì)

課程支撐及人才培養(yǎng)方向

覆蓋6大專業(yè)課程

>集成電路測(cè)試與驗(yàn)證

>集成電路原理與應(yīng)用

>半導(dǎo)體器件物理

>半導(dǎo)體集成電路

>模擬電子技術(shù)基礎(chǔ)實(shí)驗(yàn)

>電路基礎(chǔ)實(shí)驗(yàn)

14+測(cè)試實(shí)驗(yàn)分立器件

>MOSFET /BJT靜態(tài)特性參數(shù)測(cè)試實(shí)驗(yàn)

>MOSFET/BJT動(dòng)態(tài)參數(shù)測(cè)試實(shí)驗(yàn)

>MOSFET開(kāi)關(guān)特性測(cè)試宓驗(yàn)

>MOSFET電容特性測(cè)試實(shí)驗(yàn)

>整流二極管性能測(cè)試實(shí)驗(yàn)

>光耦特性測(cè)試實(shí)驗(yàn)

>材料電阻率測(cè)試實(shí)驗(yàn)

>激光器LIV特性測(cè)試實(shí)驗(yàn)

>三極管放大特性測(cè)試實(shí)驗(yàn)

IC類

>集成基準(zhǔn)電壓源性能測(cè)試實(shí)驗(yàn)

>壓控振蕩器測(cè)試實(shí)驗(yàn)

>邏輯lC功能和參數(shù)測(cè)試實(shí)驗(yàn)

>集成運(yùn)放特性參數(shù)實(shí)驗(yàn)

>邏輯芯片I/O口特性測(cè)試實(shí)驗(yàn)

...

人才培養(yǎng)方向

>半導(dǎo)體測(cè)試工程師

>集成電路應(yīng)用工程師

>芯片失效分析工程師

備注:可聯(lián)合定制集成電路宓驗(yàn)實(shí)訓(xùn)測(cè)試方案

掃描下方二維碼，可免費(fèi)獲取測(cè)試指南

如有需要，還可與專業(yè)的技術(shù)人員一對(duì)一溝通

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