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SPA6100半導體參數分析儀

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        SPA6100半導體參數分析儀具有高精度、寬測量范圍、 快速靈活、兼容性強等優(yōu)勢,產品可以同時支持DC電流-電壓(I-V)、電容-電壓(C-V)以及高流高壓下脈沖式I-V特性的測試。

        基于模塊化的結構設計,可以幫助用戶根據測試需要,靈活選配測量單元進行升級。產品支持最高1200V電壓、100A大電流、1pA小電流分辨率的測量,同時檢測10kHz至1MHz范圍內的多頻AC電容測量。

        搭載專用半導體參數測試軟件,支持交互式手動操作或結合探針臺的自動操作,能夠從測量設置、執(zhí)行、結果分析到數據管理的整個過程,實現高效和可重復的器件表征;也可與高低溫箱、溫控模塊等搭配使用,滿足高低溫測試需求。

產品特點

●    30μV-1200V,1pA-100A 寬量程測試能力

●     測量精度高,全量程下可達0.03%

●     內置標準器件測試程序,直接調用測試簡便 

●     自動實時參數提取、 數據繪圖、分析函數

●     在CV和IV測量之間快速切換而無需重新布線

●     提供靈活的夾具定制方案,兼容性強

●     免費提供上位機軟件及SCPI指令集


圖形化軟件界面

配合普賽斯自主開發(fā)的專業(yè)測試軟件,SPA6100可輕松實現半導體材料,器件的參數測試。系統(tǒng)內置常用器件模板,如二極管, 三極管,MOSFET。測試過程中,可直接調用,只需簡單設置測試參數即可。軟件支持測試數據顯示,以及曲線繪制。測試完畢 后,可將數據以及曲線導出保存。

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靈活可定制化的夾具方案

針對市面上不同封裝類型的半導體器件產品,普賽斯提供整套夾具解決方案。夾具具有低阻抗、安裝簡單、種類豐富等特點,可 用于二極管、三極管、場效應晶體管、IGBT、SiC MOS、GaN等單管,模組類產品的測試;也可與探針臺連接,實現晶圓級芯片 測試。

不同封裝類型的夾具

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產品選型

低壓直流I-V源測量單元

型號精度最大電壓量程最小電壓量程最小電壓分辨率最大電流量程最小電流量程最小電流分辨率
SPA-S1000.1%30V300mV30μV1A100nA10pA
SPA-S2000.1%100V300mV30μV1A100nA10pA
SPA-S3000.1%300V300mV30μV1A100nA10pA
SPA-S100B0.03%30V300mV30μV3A100nA10pA
SPA-S200B0.03%100V300mV30μV3A100nA10pA
SPA-S300B0.03%300V300mV30μV3A100nA10pA

低壓脈沖I-V源測量單元

型號精度最大電壓量程最小電壓量程最小電壓分辨率最大電流量程最小電流量程最小電流分辨率最小脈沖寬度
SPA-P1000.1%30V300mV30μV1A(直流)/10A(脈沖)100nA10pA200μs
SPA-P2000.1%100V300mV30μV1A(直流)/10A(脈沖)100nA10pA200μs
SPA-P3000.1%300V300mV30μV1A(直流)/10A(脈沖)100nA10pA200μs

高壓I-V源測量單元

型號精度最大電壓量程最小電壓量程最小電壓分辨率最大電流量程最小電流量程最小電流分辨率
SPA-E1000.1%1200V100V10mV100mA1μA100pA

高流I-V源測量單元

型號精度最大電壓量程最小電壓量程最小電壓分辨率最大電流量程最小電流量程最小電流分辨率最小脈沖寬度
SPA-HCP1000.1%50V300mV30μV30A(直流)/30A(脈沖)100nA10pA80μs
SPA-HCP2000.1%50V300mV30μV30A(直流)/30A(脈沖)100nA10pA80μs
SPA-HCP3000.1%100V300mV30μV30A(直流)/100A(脈沖)100nA10pA80μs

電容測量單元

型號測試頻率測試點數頻率分辨率頻率輸出精度基本精度內部直流偏置信號可測參數與量程
SPA-C10010Hz-1MHz可編程5 位±0.1%±0.5%10mV to 2V (1mV 分辨率) / 100uA-20mA

|Z| , R, X   0.001mΩ-99.999MΩ

|Y| , G, B   0.1nS-99.999S

Cs Cp   0.01pF-9.9999F



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