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專注于半導體電性能測試

如何選擇最適合你的數(shù)字源表?跟著普賽斯一起“挖一挖”

來源:admin 時間:2023-06-06 14:58 瀏覽量:1164

好久不見,普賽斯知識小課堂再次回到各位身邊。本期課堂主要和大家聊聊數(shù)字源表的選型指南。

 

數(shù)字源表也稱為源測量單元(Source Measure Unit,SMU), 集數(shù)字萬用表、電壓源、電流源、電子負載以及脈沖發(fā)生器、波形發(fā)生器等功能于一體,在功率半導體測試、光電子器件研究、晶體管檢定等方面被廣泛應用,可以簡化測試系統(tǒng),提高測試效率。

 

不知道怎么選擇SMU?不妨來“挖一挖”


1、確認待測DUT的電流電壓最大范圍

在選擇源表時,需要先確認待測DUT的電流電壓最大范圍,以此為參照來選擇源的輸出范圍,這個輸出范圍是指源表對外輸出恒定電壓/電流的功能范圍。這里需要注意,由于源表有總功率的限制,其輸出不能同時達到電流輸出和電壓輸出的最大值。

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源表采用四象限工作模式。當電壓、電流均為正時,源表工作在第一象限;當電壓為負、電流為正時,源表工作在第二象限;當電壓、電流均為負時,源表工作在第三象限;當電壓為正、電流為負時,源表工作在第四象限。


2、避免器件自熱效應對測試結(jié)果的影響

以SiC、GaN為代表的第三代半導體材料具備高禁帶寬度、高熱導率、高擊穿場強、高電子飽和漂移速率等特點,在沒有自熱效應的情況下測量半導體材料和器件的真實狀態(tài)至關(guān)重要。脈沖表征是自熱效應的有效解決方案,其原理是通過短時間通電(脈沖)來降低溫升對半導體性能的影響,進而得到更真實的數(shù)據(jù),實現(xiàn)更快速和更精準的測量。對于高速數(shù)字化或波形采集的應用場景,脈沖測試具有更高的分辨率,可以做到更優(yōu)的采樣性能,在同等帶寬下可獲得更精確的瞬態(tài)特性,是波形捕獲和瞬態(tài)特性應用的理想選擇。


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3、關(guān)注綜合測試指標

考慮數(shù)字源表的測試指標時,關(guān)鍵術(shù)語不要忽視,例如:精度、重復性、分辨率、靈敏度和NPLC采樣時間。

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以精度為例,源表關(guān)注的測量精度應包含電流測量精度和電壓測量精度。例如,在功率器件靜態(tài)參數(shù)測試中,關(guān)注10O0A及以上高電流量程下的輸出及測量精度尤為重要。


4、確認所需通道數(shù)量

當用戶有多路測試需求時,我們推薦用戶選擇普賽斯CS系列插卡式數(shù)字源表,最高可實現(xiàn)40路同時測量及輸出。

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也可以選擇將多臺單通道數(shù)字源表(SMU)連接起來,可以作為多通道源/測量單元使用,無需復雜的布線。通過此功能,只需要對主機和從機進行相關(guān)觸發(fā)設(shè)置,主機可以從A向從機發(fā)送測試數(shù)據(jù),接上專用的觸發(fā)信號線之后,即可實現(xiàn)多臺源表間的同步

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如需了解更詳細的選型指導不妨再來普賽斯“挖一挖”。



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