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行業(yè)動(dòng)態(tài) 行業(yè)動(dòng)態(tài)

行業(yè)動(dòng)態(tài)

專注于半導(dǎo)體電性能測(cè)試

普賽斯LIV窄脈沖測(cè)試系統(tǒng)在激光器性能測(cè)試中的應(yīng)用

來(lái)源:admin 時(shí)間:2023-03-20 11:31 瀏覽量:1339

5G的核心應(yīng)用是物聯(lián)網(wǎng)、車聯(lián)網(wǎng)、大數(shù)據(jù)的采集等應(yīng)用領(lǐng)域,其中手機(jī)3D攝像頭、激光雷達(dá)、無(wú)人駕駛傳感器等器件,實(shí)際應(yīng)用中往往是工作在窄脈沖大電流的工作條件下。例如,手機(jī)3D 攝像頭的核心器件是VCSEL的半導(dǎo)體激光器陣列,在一個(gè)很小面積上,往往有幾十至幾百顆激光器IC陣列。在實(shí)際應(yīng)用時(shí),需要給激光器提供超窄脈沖電流,驅(qū)動(dòng)激光器發(fā)出一個(gè)超窄脈沖的激光,而這個(gè)超窄脈沖電流大小與探測(cè)距離密切相關(guān),往往需要脈沖電流達(dá)到20A以上,脈沖寬度越小越好,需要達(dá)到μs甚至ns級(jí)。這個(gè)激光器陣列IC,以及在后續(xù)序列封裝的測(cè)試時(shí),必須要有一個(gè)達(dá)到30A的超窄脈沖電流源。激光器芯片的測(cè)試比較復(fù)雜,牽涉到光、電的測(cè)量,也要考慮封裝形式的區(qū)別。

激光器芯片的測(cè)量一般都要看LIV(光強(qiáng)-電流-電壓)數(shù)據(jù),光電參數(shù)受熱的影響比較大,隨著溫度的升高,將直接影響激光器輸出功率、閾值電流密度、電光轉(zhuǎn)化效率、微分量子效率、偏振度等性能,并導(dǎo)致半導(dǎo)體激光器壽命和可靠性的下降,甚至?xí)p毀芯片,最終影響器件可靠性。另外,大功率激光器芯片在直流以及寬脈沖下的測(cè)試結(jié)果不準(zhǔn);電源的波動(dòng)將會(huì)影響激光器的壽命,同時(shí)會(huì)造成光功率不穩(wěn)定及器件發(fā)熱不穩(wěn)定等。


激光器LIV窄脈沖測(cè)試系統(tǒng)典型方案 

光器件測(cè)試儀器的研究與開發(fā),技術(shù)上涉及前沿的小信號(hào)處理技術(shù)、射頻電路技術(shù)、高速電路技術(shù)、數(shù)字信號(hào)處理技術(shù)、嵌入式軟件開發(fā)技術(shù)、自動(dòng)控制技術(shù)、工程技術(shù)等,綜合性很強(qiáng),需要企業(yè)在自己的領(lǐng)域內(nèi)有較長(zhǎng)時(shí)間的技術(shù)與理論積累,進(jìn)入門坎高。為了滿足激光器產(chǎn)業(yè)鏈對(duì)窄脈沖LIV測(cè)試的需求,普賽斯儀表與多應(yīng)用領(lǐng)域的頭部企業(yè)進(jìn)行了深入的探討,基于多年的技術(shù)沉淀與創(chuàng)新,推出了PL窄脈沖LIV測(cè)試系統(tǒng)。

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PL系列窄脈沖LIV測(cè)試系統(tǒng)由PL系列脈沖恒流源、測(cè)試夾具、積分球、光纖、光譜儀等組成。測(cè)試原理LIV測(cè)試采用對(duì)激光器脈沖電流供電,測(cè)量器件兩端電壓和器件輸出光功率。LIV測(cè)試系統(tǒng)作為精密的電流脈沖源,驅(qū)動(dòng)激光器發(fā)出不同波長(zhǎng)的激光,激光經(jīng)過(guò)特制的積分球來(lái)進(jìn)行收光,積分球?qū)⒕哂幸欢òl(fā)散角的光進(jìn)行能量衰減,然后使用PD進(jìn)行光電轉(zhuǎn)換,系統(tǒng)對(duì)光電流進(jìn)行快速采樣,從而達(dá)到精準(zhǔn)測(cè)算激光器所輸出的激光功率。經(jīng)典的測(cè)試原理配合普賽斯PL測(cè)試系統(tǒng)出色的性能和嚴(yán)格的指標(biāo)要求,幫助行業(yè)用戶完成了一系列富有挑戰(zhàn)的測(cè)試項(xiàng)目。

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系統(tǒng)優(yōu)勢(shì) 

1、集多表功能于一體,實(shí)現(xiàn)一機(jī)多用:快速脈沖發(fā)生器+程控電流源+峰值取樣光功率計(jì)+脈沖電壓表 

- 通過(guò)15MS/s的數(shù)字化功能,實(shí)現(xiàn)脈沖發(fā)生器0.1%基本測(cè)量精度;

- 超窄至ns級(jí)的脈沖,占空比可低至0.01%;

- 多個(gè)精密光電流測(cè)試量程;

- 上位機(jī)LIV算法,支持各種參數(shù)的自動(dòng)計(jì)算

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2、脈沖高保真:脈沖無(wú)過(guò)沖、無(wú)振蕩 

- 最快脈沖上升時(shí)間300A/μs

- 最大30A脈沖電流輸出;

- 兼容CW和QCW模式,精密的脈沖寬度可調(diào)節(jié)技術(shù);

- 超高速脈沖采樣技術(shù),確保在窄脈沖下采樣數(shù)據(jù)準(zhǔn)確

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3、更大的測(cè)試電流,實(shí)現(xiàn)更多的可能

- 可以通過(guò)并聯(lián)多達(dá)4臺(tái)普賽斯PL系列設(shè)備;

- 提供最大120A、μs級(jí)脈寬的驅(qū)動(dòng)電流;

- 同一個(gè)上位機(jī)軟件上實(shí)現(xiàn)大功率激光器的LIV測(cè)試

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4、上位機(jī)測(cè)試軟件豐富,功能強(qiáng)大

- 系統(tǒng)配有專用上位機(jī)軟件;

- 實(shí)現(xiàn)快速測(cè)試,提高測(cè)試效率。

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在激光器光譜特性等光學(xué)參數(shù)項(xiàng)目測(cè)量中,測(cè)試機(jī)仍需要電流源為器件供電,根據(jù)實(shí)際應(yīng)用有CW和QCW模式兩種。推薦使用普賽斯PL系列窄脈沖測(cè)試系統(tǒng)集成使用,PL系列作為恒流電流源也可同時(shí)為光譜儀、其他自動(dòng)化設(shè)備、擴(kuò)展接口等提供I/O接口及合理設(shè)計(jì)的測(cè)試夾具,從而實(shí)現(xiàn)測(cè)試機(jī)的全參數(shù)自動(dòng)化測(cè)試。 

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典型應(yīng)用

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普賽斯儀表以先進(jìn)的測(cè)試測(cè)量技術(shù)作為半導(dǎo)體行業(yè)科研與測(cè)試需求的基石,與時(shí)俱進(jìn)為激光器測(cè)試與老化的應(yīng)用場(chǎng)景提供專業(yè)可靠的測(cè)試測(cè)量設(shè)備,打破傳統(tǒng)的測(cè)試解決方案將幫助您更高效達(dá)到測(cè)試目標(biāo)。

PL系列激光器LIV窄脈沖測(cè)試系統(tǒng)、HCPL系列大功率激光器測(cè)試電源、LDBI系列多路大功率激光器老化系統(tǒng)等更多產(chǎn)品及方案詳情,歡迎聯(lián)系咨詢。



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