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專注于半導(dǎo)體電性能測試

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研無止境 I 普賽斯儀表新一代半導(dǎo)體高速器件I-V測試解決方案即將上市！

來源：admin 時間：2022-12-13 14:50 瀏覽量：1117

隨著III-V族新型半導(dǎo)體材料的快速發(fā)展與創(chuàng)新應(yīng)用，針對氮化鎵(GaN)、砷化鎵(GaAs)和其它一些化合物半導(dǎo)體的特征表征，如何像直流測量那樣，輕松實現(xiàn)超快的I-V源和測量操作？如何通過使用窄脈沖和/或低占空比脈沖，而不是直流信號來防止器件的自熱效應(yīng)？如何滿足既需要超快電壓輸出，又需要同步高靈敏度電流測量的應(yīng)用需求？

普賽斯儀表即將推出的ns級半導(dǎo)體高速器件I-V測試解決方案給出的答案是：完全滿足！

插卡式設(shè)計+1CH/插卡+最高支持10通道，普賽斯儀表新一代脈沖恒壓源CP5xx系列，即將為您揭曉！

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怎樣的配置才能讓測試更加精準(zhǔn)、高效。窄脈寬、高精度、寬量程插卡式脈沖恒壓源，普賽斯儀表新一代脈沖恒壓源CP5xx系列即將為您揭曉！

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新一代半導(dǎo)體高速器件I-V測試，大功率激光器、GaN射頻功放、憶阻器性能表征新利器普賽斯儀表新一代脈沖恒壓源CP5xx系列即將為您揭曉！

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創(chuàng)新新品，研無止境！即將上市，敬請期待！


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